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比表面及孔徑分析儀是一種用于測量固體材料比表面積、孔徑分布及孔隙率的物理性能測試儀器，主要基于氣體吸附法，通過測量固體材料表面及孔隙對氣體的吸附量，結合理論模型計算材料的比表面積和孔徑分布。比表面及孔徑分析儀的功能：比表面積測量：可準確測量單位質量物質的總表面積，是評估催化劑活性位點數量等的關鍵指標，測量范圍可低至0.0005m2/g甚至更小。孔徑分布分析：能夠分析從微孔(50nm)的寬范圍孔徑分布，揭示反應物和產物分子在材料內的傳輸通道。孔容測定：可測定所有孔洞內部體積的總...

光散射納米粒度儀是一種基于光散射技術測量納米顆粒粒徑分布的高精度儀器，其核心原理是通過分析顆粒布朗運動引起的散射光波動或靜態散射光強度，推算顆粒的粒徑及分布。光散射納米粒度儀的主要特點：操作簡便：儀器通常配備自動化程度較高的軟件，可實現一鍵式測量和數據處理。測試快捷：一般測量時間較短。精度高：采用好的測試原理和高性能的部件，能夠準確地測量納米顆粒的粒度。分辨能力強：可以分辨納秒級信號起伏，能夠精確地區分不同大小的顆粒。應用領域：材料科學：用于納米金屬氧化物、納米陶瓷材料等的粒...

在生物制藥領域，蛋白質藥物的質量控制已成為保障療效與安全性的核心環節。其中，蛋白質聚集體計數分析尤為關鍵——這些由錯誤折疊導致的多聚體不僅會降低藥物活性，還可能引發免疫原性反應甚至嚴重副作用。隨著抗體藥物和重組蛋白制劑的快速發展，市場對高精度、自動化的蛋白質聚集體檢測設備需求日益迫切。本文將深入解析該類儀器的技術原理，并探討實現精準檢測的創新策略。一、光散射技術的革新應用現代蛋白質聚集體計數分析儀普遍采用動態光散射(DLS)與靜態光散射(SLS)聯用技術。通過激光照射樣品溶液...

Zeta電位儀通過測量顆粒表面電荷特性，為膠體體系穩定性評估提供關鍵數據。影響Zeta電位儀測試結果的關鍵因素有：1、樣品制備：濃度：樣品濃度需適中(通常為0.001%~0.1%，具體視顆粒尺寸而定)，濃度過高易導致顆粒相互遮擋或碰撞，濃度過低則信號弱、統計誤差大；雜質：需去除樣品中的大顆粒雜質，避免雜質干擾顆粒遷移信號；離子強度：分散介質的離子強度會壓縮雙電層厚度，導致Zeta電位絕對值降低，需保持離子強度穩定。2、測試溫度：溫度直接影響分散介質的黏度(η)和介電常數(ε)...

當膠體顆粒分散在液體中時，顆粒表面會因吸附離子、電離或摩擦等作用帶上電荷(正電或負電)。為維持電中性，顆粒周圍會形成一層“雙電層”——緊密層(Stern層，直接吸附在顆粒表面)和擴散層(游離離子構成，隨距離增加電荷密度降低)。當顆粒在電場中運動(或液體相對于顆粒流動)時，緊密層與擴散層的分界面(滑動面)相對于遠處溶液的電位差，即為Zeta電位。Zeta電位的數值和符號直接決定分散體系的穩定性：絕對值越高：顆粒間的靜電排斥力越強，分散體系越穩定(不易團聚或沉降)；絕對值越低：靜...

在線納米粒度儀作為一種測量工具，在多個領域展現出了巨大的應用潛力。它基于動態光散射技術，當激光束照射到納米顆粒上時，顆粒會散射出光線，而散射光的強度、角度和時間分布與顆粒的粒徑、形狀以及折射率等物理性質密切相關。通過精密的光電轉換和數據處理系統，該設備能夠迅速且準確地獲取顆粒的粒徑分布信息。與傳統的離線粒度儀相比，在線納米粒度儀的較大優勢在于其可以實現連續、實時的監測。這一特性使得它在生產過程的質量控制中發揮了重要作用。例如，在化工行業中，原料或產品的微小變化都可能影響產品的...

納米粒度儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑分布的物理測試儀器。納米粒度儀的選購要點：技術原理選擇：動態光散射(DLS)：適用于稀溶液，快速、非侵入式檢測，但對高濃度樣品敏感。靜態光散射(SLS)：適合高濃度或大顆粒(1μm)體系，需多角度檢測且數據復雜。納米顆粒跟蹤分析(NTA)：顯微成像技術，直接觀測顆粒軌跡，適用于復雜樣品，但耗時較長。核心性能指標：量程：基礎型儀器多為1nm至10μm，部分型號可擴展至100μm。分辨率：優質儀器可區分≤10%的粒徑差異。靈敏度：AP...

比表面及孔徑分析儀是基于氣體吸附法，通過測量材料在低溫下對氣體分子的吸附量，結合理論模型計算比表面積、孔徑分布及孔隙率。比表面及孔徑分析儀的使用注意事項1、樣品預處理：脫氣是關鍵步驟：需根據樣品特性設置脫氣溫度和時間，確保去除表面吸附的水分、油污等雜質，否則會導致比表面積測量值偏小。樣品量：根據比表面積大小調整，高比表面積樣品只需0.1-0.5g，低比表面積樣品需1-5g，確保吸附量在儀器檢測范圍內。2、實驗條件選擇：吸附氣體：氮氣是常規選擇，但對于微孔材料（平衡時間：在每個...