表面zeta電位采用了什么測量技術

　　表面zeta電位是簡單、方便而且的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結(jié)合，使其具有的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)zeta電位儀中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得而方便。
 

　　表面zeta電位采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移，采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
 

　　表面zeta電位主要是測量分散體系中帶電顆粒的zeta電位，廣泛應用于現(xiàn)代科研、生產(chǎn)領域。比如在工業(yè)廢水、江河飲用水采水處理中，我們希望添加適合的絮凝劑，使水分散體系趨向于極不穩(wěn)定、水分散體系中的帶電顆粒絮凝成大團并沉降，從而獲得干凈的水體。而相反的例子是在造紙工業(yè)中，我們希望調(diào)配較佳的漿體環(huán)境，使紙漿分散體系趨向于非常穩(wěn)定、紙漿分散體系中的帶電顆粒以極小微粒分散，從而獲得光潔平滑的紙張。
 

　　表面zeta電位儀器采用了高靈敏度測量技術，是同時滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀，可檢測粒徑從0.1nm到12.30μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。在半導體，醫(yī)藥和食品行業(yè)，陶瓷和顏料工業(yè)，聚合物和化工領域有的應用。