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    納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領域研究機制

    更新時間:2017-04-19      點擊次數:1944
       納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領域研究機制
      
      可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
      
      可測定固體zeta電位
      
      寬粒徑范圍(0.6nm~10μm),寬濃度范圍(粒徑測試:0.00001%~40%,zeta電位測試:0.001%~40%)
      
      可測量稀釋或濃縮的懸浮液
      
      用戶友好的軟件
      
      多種樣品池選擇
      
      可選擇一次性樣品池
      
      結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進行表征
      
      可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值
      
      納米粒度和Zeta電位分析儀使用領域研究機制:
      
      半導體
      
      研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
      
      醫藥和食品行業
      
      乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。
      
      陶瓷和顏料工業
      
      表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。
      
      聚合物和化工領域
      
      乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產紙漿過程研究,紙漿添加劑研究。

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